Индекс цитирования

Авторизация






Забыли пароль?

Обложка журнала

НОВОСТИ

(11/10) Ученые из ИФХЭ РАН и МГУ под руководством Ольги Виноградовой поняли, как «полосатая» гидрофобность..
   Ученые из ИФХЭ РАН и МГУ под руководством Ольги Виноградовой поняли, как «полосатая» гидрофобность меняет течение жидкости     ...
Read More ...
(11/10) Ученые обнаружили пути проникновения вирусов гриппа и ВИЧ в организм
Ученые ИФХЭ РАН, НИТУ МИСиС, МФТИ и ряда других российских научных организаций изучили и описали би...
Read More ...
(17/04) Курс “Анализ геномных данных”, Москва, 2 – 11 июля 2012
Уважаемые коллеги, Со 2 по 11 июля 2012 года Учебный центр Института биологии гена РАН организует практический десятидневный курс по статистическому анализу геномных дан...
Read More ...
(12/03) Впервые получено изображение атомов, движущихся в молекуле
Исследователи из Университетов Огайо и Канзаса впервые смогли получить изображения атомов, движущихся в молекуле. С помощью ультрабыстрого лазера исследователи выбивали элек...
Read More ...

Надежная игла для атомно-силового микроскопа Печать
(1 голос)
28.02.2010 г.

Image

Инженеры из Исследовательской лаборатории IBM в Цюрихе (Швейцария), Пенсильванского и Висконсинского университетов (оба — США) создали надежную наноразмерную иглу из алмазоподобного углерода с кремнием, предназначенную для использования в атомно-силовом микроскопе.

Свойства тонких пленок такого материала авторы уже изучали, однако изготовить целый наконечник из алмазоподобного углерода им пока не удавалось. На сей раз они использовали оригинальную многоступенчатую технологию формирования иглы на стандартном кремниевом кантилевере.

В ходе тестирования новой иглы ее проводили по поверхности диоксида кремния — материала, который часто используется в технологических процессах. Опытный образец показал высокую износостойкость, значительно опередив обычный кремний: при перемещении на 1 мкм вдоль подложки наконечник терял лишь один атом.

Авторам также удалось показать, что с переходом к наноразмерным структурам классическая модель износа, предложенная Арчардом, перестает работать. Это вполне объяснимо, так как многие влияющие на износ и прочность крупных образцов факторы (дефекты, трещины) в микромире теряют свое значение.