Индекс цитирования

Авторизация






Забыли пароль?

Обложка журнала

НОВОСТИ

(11/10) Ученые из ИФХЭ РАН и МГУ под руководством Ольги Виноградовой поняли, как «полосатая» гидрофобность..
   Ученые из ИФХЭ РАН и МГУ под руководством Ольги Виноградовой поняли, как «полосатая» гидрофобность меняет течение жидкости     ...
Read More ...
(11/10) Ученые обнаружили пути проникновения вирусов гриппа и ВИЧ в организм
Ученые ИФХЭ РАН, НИТУ МИСиС, МФТИ и ряда других российских научных организаций изучили и описали би...
Read More ...
(17/04) Курс “Анализ геномных данных”, Москва, 2 – 11 июля 2012
Уважаемые коллеги, Со 2 по 11 июля 2012 года Учебный центр Института биологии гена РАН организует практический десятидневный курс по статистическому анализу геномных дан...
Read More ...
(12/03) Впервые получено изображение атомов, движущихся в молекуле
Исследователи из Университетов Огайо и Канзаса впервые смогли получить изображения атомов, движущихся в молекуле. С помощью ультрабыстрого лазера исследователи выбивали элек...
Read More ...

C точностью до атома Печать
(0 голосов)
08.07.2009 г.

Image

Исследователи из Японии смогли добиться от спектральных методов разрешающей способности в один атом, разработав метод спектроскопии потери энергии электрона [electron energy loss spectroscopy (EELS)]. Метод EELS позволяет определять не только положение отдельного атома в твердом веществе, но и тип этого атома.

Изображение пяти фуллереновых клеток в углеродной нанотрубке, полученное с помощью TEM (слева). Химическая карта того же образца, полученная с помощью EELS (C –красный, Ca – зеленый) показывает, что каждый фуллерен содержит по одному атому кальция. (Рисунок из Nat. Chem., DOI: 10.1038/nchem.282)

В типичном эксперименте EELS исследователи облучают твердый образец пучком электронов и измеряют понижение энергии луча (потерю энергии), вызванную взаимодействием пучка электронов с атомами образца; такая потеря энергии является характеристичной для каждого элемента. При использовании в сочетании с просвечивающей электронной микроскопией [transmission electron microscopy (TEM)] метод EELS позволяет определить атомный состав наноазмерной области, изучающейся с помощью TEM.

Обычный способ для увеличения разрешения обоих методов заключается в увеличении энергии пучка электронов (до 400 кэВ), что позволяет сфокусировать его до размеров атомов, однако при этом увеличение энергии пучка электронов может привести к повреждению образца.

Для решения этой проблемы Казу Суенага (Kazu Suenaga) и Юта Сато (Yuta Sato) модифицировали просвечивающий электронный микроскоп дополнительно фокусирующими электроны корректорами аберрации (aberration correctors), что позволило снизить энергию луча TEM всего до 60 кэВ. Модифицированное устройство позволило изучить нанотрубки, содержащие фуллерены с интеркалированными атомами кальция или церия. Исследователи сообщают, что метод позволил не только отличить кальций от церия, но и различить Ce3+ и Ce4+.

Источники:

1. Nat. Chem., DOI: 10.1038/nchem.282

2. ChemPort