Рентгеновская микроскопия

Материал из m-protect.ru

Перейти к: навигация, поиск

Рентгеновская микроскопия — совокупность методов исследования микроскопического строения вещества с помощью рентгеновского излучения.

В рентгеновской микроскопии используют специальные приборы — рентгеновские микроскопы. Разрешающая способность достигает 100нм, что в 2 раза выше, чем у оптических микроскопов (200нм). Теоретически рентгеновская микроскопия позволяет достичь на 2 порядка лучшего разрешения, чем оптическая (поскольку длина волны рентгеновского излучения меньше на 2 порядка). Однако современный оптический микроскоп - наноскоп имеет разрешение до 3-10нм.

Рентгеновская микроскопия разделяется на:

Общие сведения

Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом отличается от лучей видимого спектра света.

Малое отклонение показателя преломления рентгеновских лучей от единицы (меньше чем на 10— 4) практически не позволяет использовать для их фокусировки линзы и призмы. Электрические и магнитные линзы для этой цели также неприменимы, так как рентгеновские лучи инертны к электрическому и магнитному полям. В рентгеновской микроскопии для фокусировки рентгеновских лучей в настоящее время разработаны спектрометры и рентгеновские микроскопы, у которых главными оптическими элементами - рентгеновскими линзами -являются зеркала с заданными профилями, профилированные пластинки и трубки. Эти оптические элементы изготавливаютя с рабочими поверхностями, обработанные с высокой точностью и чистотой поверхности, с покрытимы пленкой осажденных монокристаллов кварца, кремния и др. атомов. Трубки изготавливаются в виде колец c использованием этих монокристаллов.

Благодаря высокой проникающей способности, простоте линейчатой структуры спектра и резкой зависимости коэффициента поглощения рентгеновского излучения от атомного номера элемента по методу проекции в расходящемся пучке лучей, испускаемых «точечным» источником, осуществляется проекционная, или теневая рентгеновская микроскопия.

Личные инструменты