Рефлектометрия
Материал из m-protect.ru
(Различия между версиями)
(Новая: '''Рефлектометрия''' – технология, позволяющая определять различные характеристики исследуемой среды...) |
Текущая версия (09:56, 13 марта 2009) (просмотреть исходный код) |
||
| Строка 5: | Строка 5: | ||
Одним из самых простых методов теоретического описания отражения излучения от идеально гладких или острых, но бесструктурных поверхностей является [[теория отражения Френеля]]. | Одним из самых простых методов теоретического описания отражения излучения от идеально гладких или острых, но бесструктурных поверхностей является [[теория отражения Френеля]]. | ||
| + | |||
| + | ==Виды рефлектометрии:== | ||
| + | |||
| + | * [[Рефлектометрия тонких пленок]] | ||
| + | * [[Нейтронная рефлектометрия]] | ||
| + | * [[Импульсная рефлектометрия]] | ||
| + | * [[Рентгеновская рефлектометрия]] | ||
| + | |||
[[Категория:Рефлектометрия]] | [[Категория:Рефлектометрия]] | ||
[[категория:Приборы физико-химических исследований]] | [[категория:Приборы физико-химических исследований]] | ||
Текущая версия
Рефлектометрия – технология, позволяющая определять различные характеристики исследуемой среды:
- поверхности (например, определение коэффициентов отражения и поглощения)
- объемной среды (например, изучение распределения неоднородностей в оптическом волокне).
Одним из самых простых методов теоретического описания отражения излучения от идеально гладких или острых, но бесструктурных поверхностей является теория отражения Френеля.
