http://m-protect.ru/wiki/index.php?title=%D0%AD%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BE%D0%B3%D1%80%D0%B0%D1%84%D0%B8%D1%8F&feed=atom&action=historyЭлектронография - История изменений2024-03-28T21:50:09ZИстория изменений этой страницы в викиMediaWiki 1.13.3http://m-protect.ru/wiki/index.php?title=%D0%AD%D0%BB%D0%B5%D0%BA%D1%82%D1%80%D0%BE%D0%BD%D0%BE%D0%B3%D1%80%D0%B0%D1%84%D0%B8%D1%8F&diff=966&oldid=prevDenis: Новая: '''Электронография''' (от электрон и ...графия), метод изучения природы, структуры и морфологии вещества, ...2009-03-17T11:11:39Z<p>Новая: '''Электронография''' (от электрон и ...графия), метод изучения природы, структуры и морфологии вещества, ...</p>
<p><b>Новая страница</b></p><div>'''Электронография''' (от электрон и ...графия), метод изучения природы, структуры и морфологии вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Применяется для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул в газах и парах. <br />
<br />
Физическая основа ''электронографии'' - дифракция электронов; при прохождении через вещество электроны, обладающие волновыми свойствами, взаимодействуют с атомами, в результате чего образуются отдельные дифрагированные пучки. Интенсивности и пространственное распределение этих пучков находятся в строгом соответствии с атомной структурой образца, размерами и ориентацией отдельных кристалликов и другими структурными параметрами. Рассеяние электронов в веществе определяется электростатическим потенциалом атомов, максимумы которого в кристалле отвечают положениям атомных ядер.<br />
<br />
Электронографические исследования проводятся в специальных приборах - [[электронограф]]ах и [[электронный микроскоп|электронных микроскопах]]; в условиях вакуума в них электроны ускоряются электрическим полем, фокусируются в узкий светосильный пучок, а образующиеся после прохождения через образец пучки либо фотографируются (электронограммы), либо регистрируются фотоэлектрическим устройством. В зависимости от величины электрического напряжения, ускоряющего электроны, различают дифракцию быстрых электронов (напряжение от 30-50 кэв до 1000 кэв и более) и дифракцию медленных электронов (напряжение от нескольких в до сотен в).<br />
<br />
Электронография принадлежит к дифракционным структурным методам (наряду с [[рентгеноструктурный анализ|рентгеновским структурным анализом]] и [[нейтронография|нейтронографией]]) и обладает рядом особенностей. Благодаря несравнимо более сильному взаимодействию электронов с веществом, а также возможности создания светосильного пучка в электронографе, экспозиция для получения электронограмм обычно составляет около секунды, что позволяет исследовать структурные превращения, кристаллизацию и т. д. С другой стороны, сильное взаимодействие электронов с веществом ограничивает допустимую толщину просвечиваемых образцов десятыми долями мкм (при напряжении 1000-2000 кэв максимальная толщина несколько мкм).<br />
<br />
Электронография позволила изучать атомные структуры огромного числа веществ, существующих лишь в мелкокристаллическом состоянии. Она обладает также преимуществом перед рентгеновским структурным анализом в определении положения лёгких атомов в присутствии тяжёлых (методам нейтронографии доступны такие исследования, но лишь для кристаллов значительно больших размеров, чем для исследуемых в электронографии).<br />
<br />
[[категория:Приборы физико-химических исследований]]</div>Denis