МЕТОДЫ АНАЛИЗА АСМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ ТОНКИХ ПЛЕНОК БЛОК-СОПОЛИМЕРОВ |
02.03.2009 г. | |
МЕТОДЫ АНАЛИЗА АСМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ ТОНКИХ ПЛЕНОК БЛОК-СОПОЛИМЕРОВЕ. А. Меньшиков1,2, А. В. Большакова2, О. И. Виноградова1, И. В. Яминский21Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина РАН 119991, Москва, Ленинский просп., 312Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова 119992 Москва. Ленинские горы д. 1 стр. 3Поступила в редакцию 06.03.2008 г.Исследована структура тонких пленок полистирол-полиметакрилат-полистирол (СМАС) триблок-сополимера. Разработан универсальный алгоритм анализа изображений тонких пленок блок-сополимеров полученных методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) Список литературы
|