МЕТОДЫ АНАЛИЗА АСМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ ТОНКИХ ПЛЕНОК БЛОК-СОПОЛИМЕРОВ
02.03.2009 г.

МЕТОДЫ АНАЛИЗА АСМ-ИЗОБРАЖЕНИЙ ТОНКИХ ПЛЕНОК БЛОК-СОПОЛИМЕРОВ

 

Е. А. Меньшиков1,2, А. В. Большакова2, О. И. Виноградова1, И. В. Яминский2

 

1Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина РАН 119991, Москва, Ленинский просп., 31

2Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова 119992 Москва. Ленинские горы д. 1 стр. 3

 

Поступила в редакцию 06.03.2008 г.

Исследована структура тонких пленок полистирол-полиметакрилат-полистирол (СМАС) триблок-сополимера. Разработан универсальный алгоритм анализа изображений тонких пленок блок-сополимеров полученных методом атомно-силовой микроскопии (АСМ)

Список литературы

  1. Hayakawa T., Yokoyama H. // Langmuir. 2005. V. 21. P. 10288.
  2. Ho R.-M., Tseng W.-H., Fan H.-W. et al. // Polymer. 2005. V. 46. P. 9362.
  3. Bal M., Ursache A., Tuominen M.T. et al. // Appl. Phys. Lett. 2002. V. 81. P. 3479.
  4. Darling S.B., Bader S.D. // J. Mater. Chem. 2005. V. 15. P. 4189.
  5. Li X., Tian S., Ping Y. et al. // Langmuir. 2005. V. 21. P. 9393.
  6. Jung J.-M., Kwon K.Y., Ha T.-H. et al. // Small. 2006. V. 2. P. 1010.
  7. Cohen R.E. // Curr. Opin. Solid. State Mater. Sci. 1999. V. 4. P. 587.
  8. Knoll A., Magerle R., Krausch G. // Macromolecules. 2001. V. 34. P. 4159.