Нанооптика
Материал из m-protect.ru
(Новая: '''Нанооптика''' — раздел в оптики и нанотехнологии, в котором используется свет лока...) |
Текущая версия (07:35, 11 сентября 2009) (просмотреть исходный код) |
||
Строка 5: | Строка 5: | ||
В оптике считалось, что существует фундаментальное ограничение разрешающей способности оптического изображения. Это связано с наличием рэлеевского критерия, согласно которому минимальный размер различимого объекта немного меньше длины волны используемого света и ограниченно дифракцией излучения. | В оптике считалось, что существует фундаментальное ограничение разрешающей способности оптического изображения. Это связано с наличием рэлеевского критерия, согласно которому минимальный размер различимого объекта немного меньше длины волны используемого света и ограниченно дифракцией излучения. | ||
- | Используя же структуры нанометровых размеров стало возможным создать [[ | + | Используя же структуры нанометровых размеров стало возможным создать [[Ближнепольная оптическая микроскопия|ближнепольный микроскоп]], с помощью которого был преодолен дифракционный придел в оптике. Пространственное разрешение этого [[микроскоп]]а зависит от условий освещения. Предельное разрешение, например, для зонда с алюминиевым покрытием в видимом диапазоне спектра составляет примерно 13 нм, а при развитии данной технологии теоретически можно достигнуть 1 нм. |
Это позволило изучать биологические объекты без их повреждения и в естественном окружении (''in vivo''). Так же это важно для [[Наноэлектроника|наноэлектроники]] для исследования поверхности и топологии элементов с высокой локальностью. При наблюдении космических объектов, стало возможным определить размер объекта (например, диаметр звезды) даже если он значительно меньше длины волны регистрируемого излучения. | Это позволило изучать биологические объекты без их повреждения и в естественном окружении (''in vivo''). Так же это важно для [[Наноэлектроника|наноэлектроники]] для исследования поверхности и топологии элементов с высокой локальностью. При наблюдении космических объектов, стало возможным определить размер объекта (например, диаметр звезды) даже если он значительно меньше длины волны регистрируемого излучения. | ||
Строка 13: | Строка 13: | ||
* [http://ufn.ru/ufn99/ufn99_3/Russian/r993h.pdf В. С. Летохов, Проблемы нанооптики, 1998] | * [http://ufn.ru/ufn99/ufn99_3/Russian/r993h.pdf В. С. Летохов, Проблемы нанооптики, 1998] | ||
* [http://www.pereplet.ru/nauka/Soros/pdf/0003_099.pdf М. Н. Либенсон, Преодоление дифракционного придела в оптике, 2000] | * [http://www.pereplet.ru/nauka/Soros/pdf/0003_099.pdf М. Н. Либенсон, Преодоление дифракционного придела в оптике, 2000] | ||
+ | |||
+ | [[Категория:Нанотехнология]] |
Текущая версия
Нанооптика — раздел в оптики и нанотехнологии, в котором используется свет локализованный в пространстве много меньшем длины волны (λ), или объеме много меньшем λ3. Практическое развитие этой области основано на создании лазеров и нанотехнологии, которая позволяет создавать наноструктуры (кластеры, пленки, трубки)
Возможности нанооптики
В оптике считалось, что существует фундаментальное ограничение разрешающей способности оптического изображения. Это связано с наличием рэлеевского критерия, согласно которому минимальный размер различимого объекта немного меньше длины волны используемого света и ограниченно дифракцией излучения.
Используя же структуры нанометровых размеров стало возможным создать ближнепольный микроскоп, с помощью которого был преодолен дифракционный придел в оптике. Пространственное разрешение этого микроскопа зависит от условий освещения. Предельное разрешение, например, для зонда с алюминиевым покрытием в видимом диапазоне спектра составляет примерно 13 нм, а при развитии данной технологии теоретически можно достигнуть 1 нм.
Это позволило изучать биологические объекты без их повреждения и в естественном окружении (in vivo). Так же это важно для наноэлектроники для исследования поверхности и топологии элементов с высокой локальностью. При наблюдении космических объектов, стало возможным определить размер объекта (например, диаметр звезды) даже если он значительно меньше длины волны регистрируемого излучения.