Спектроскопия отражения

Материал из m-protect.ru

(Различия между версиями)
Перейти к: навигация, поиск
Строка 1: Строка 1:
'''Спектроскопия отражения''' - раздел спектроскопии, изучающий закономерности отражения электромагнитного излучения от разлазличных сред. Лежит в основе методов исследования веществ по спектрам отражения.
'''Спектроскопия отражения''' - раздел спектроскопии, изучающий закономерности отражения электромагнитного излучения от разлазличных сред. Лежит в основе методов исследования веществ по спектрам отражения.
-
Различают спектры ''внешнего'' и ''внутреннего'' отражения. Первые, в свою очередь, делятся на спектры зеркального отражения, когда падающий и отраженный лучи лежат в одной плоскости с нормалью к отражающей поверхности, а угол отражения равен углу падения, и спектры диффузного отражения, когда отраженные лучи рассеиваются по разным направлениям. Характер внешнего отражения излучения определяется соотношением между длиной волны l падающего излучения и размерами неровностей отражающей поверхности. При неровностях, размеры которых меньше l, наблюдается зеркальное отражение, в остальных случаях-диффузное отражение (рассеянное излучение). Практически отраженное излучение имеет смешанный характер; при специально выбранных условиях преобладает вклад того или иного вида отражения. Зеркальное отражение получают с применением гладкой плоской поверхности, в частности при исследовании мол. структур слоев, нанесенных на разл. подложки, при изучении явлений адгезии, [[адсорбция|адсорбции]], электрокатализа, ингибирования коррозии, а также при определении оптических постоянных (например, действительной и мнимой частей показателя преломления).
+
Различают спектры ''внешнего'' и ''внутреннего'' отражения. Первые, в свою очередь, делятся на спектры зеркального отражения, когда падающий и отраженный лучи лежат в одной плоскости с нормалью к отражающей поверхности, а угол отражения равен углу падения, и спектры диффузного отражения, когда отраженные лучи рассеиваются по разным направлениям. Характер внешнего отражения излучения определяется соотношением между длиной волны l падающего излучения и размерами неровностей отражающей поверхности. При неровностях, размеры которых меньше l, наблюдается зеркальное отражение, в остальных случаях-диффузное отражение (рассеянное излучение). Практически отраженное излучение имеет смешанный характер; при специально выбранных условиях преобладает вклад того или иного вида отражения. Зеркальное отражение получают с применением гладкой плоской поверхности, в частности при исследовании мол. структур слоев, нанесенных на разл. подложки, при изучении явлений [[адгезия|адгезии]], [[адсорбция|адсорбции]], электрокатализа, ингибирования коррозии, а также при определении оптических постоянных (например, действительной и мнимой частей показателя преломления).
-
Спектры диффузного отражения обычно малоинтенсивны, т. к. удается собрать и направить в спектральный прибор только очень малую часть рассеянного (отраженного) излучения. Поэтому в этом случае необходимо применять ИК фурье-спектрофотометры, обладающие высокими светосилой и соотношением сигнал: шум (ок. 105). Получаемые при диффузном отражении спектры часто оказываются подобными спектрам пропускания. Исследуемыми образцами м. б. массивные твердые тела, порошки (иногда содержащие разл. наполнители - КВr, КСl, CsI, прозрачные в исследуемой области спектра), волокнистые (ткани, войлок) и ячеистые (например, электроды с разл. наполнителями) материалы, пены, суспензии и аэрозоли, разрядные промежутки с электронными запалами для анализа возможных загрязнений и т.д. Перед исследованием твердый образец обычно натирают на наждачную бумагу на основе карбида кремния тонкого помола, спектр к-рого либо не проявляется в спектре исследуемого образца, либо может бsnm вычтен из полученного спектра и использоваться как спектр сравнения. Спектры отражения при диффузном рассеянии могут наблюдаться от достаточно малых количеств вещества, например от пятен на хрома-тографической пластине. Метод используют также для определения диэлектрических свойств образцов.
+
Спектры диффузного отражения обычно малоинтенсивны, т. к. удается собрать и направить в спектральный прибор только очень малую часть рассеянного (отраженного) излучения. Поэтому в этом случае необходимо применять [[ИК фурье-спектрофотометр]]ы, обладающие высокими светосилой и соотношением сигнал: шум (ок. 105). Получаемые при диффузном отражении спектры часто оказываются подобными спектрам пропускания. Исследуемыми образцами м. б. массивные твердые тела, порошки (иногда содержащие разл. наполнители - КВr, КСl, CsI, прозрачные в исследуемой области спектра), волокнистые (ткани, войлок) и ячеистые (например, электроды с разл. наполнителями) материалы, пены, суспензии и аэрозоли, разрядные промежутки с электронными запалами для анализа возможных загрязнений и т.д. Перед исследованием твердый образец обычно натирают на наждачную бумагу на основе карбида кремния тонкого помола, спектр к-рого либо не проявляется в спектре исследуемого образца, либо может бsnm вычтен из полученного спектра и использоваться как спектр сравнения.  
 +
 
 +
Спектры отражения при диффузном рассеянии могут наблюдаться от достаточно малых количеств вещества, например от пятен на хрома-тографической пластине. Метод используют также для определения диэлектрических свойств образцов.
Спектры внутреннего отражения наблюдают, когда исследуемый образец находится в контакте с призмой из оптически менее плотного материала; излучение проходит сначала через призму и ее границу с образцом под углом, превышающим критический (т.е. угол падения, при котором преломление света в образец прекращается), а затем проникает в образец (на глубину до 1-2 мкм), где теряет часть своей энергии и отражается.  
Спектры внутреннего отражения наблюдают, когда исследуемый образец находится в контакте с призмой из оптически менее плотного материала; излучение проходит сначала через призму и ее границу с образцом под углом, превышающим критический (т.е. угол падения, при котором преломление света в образец прекращается), а затем проникает в образец (на глубину до 1-2 мкм), где теряет часть своей энергии и отражается.  
[[Категория:Спектроскопия]]
[[Категория:Спектроскопия]]

Версия 11:00, 2 апреля 2009

Спектроскопия отражения - раздел спектроскопии, изучающий закономерности отражения электромагнитного излучения от разлазличных сред. Лежит в основе методов исследования веществ по спектрам отражения.

Различают спектры внешнего и внутреннего отражения. Первые, в свою очередь, делятся на спектры зеркального отражения, когда падающий и отраженный лучи лежат в одной плоскости с нормалью к отражающей поверхности, а угол отражения равен углу падения, и спектры диффузного отражения, когда отраженные лучи рассеиваются по разным направлениям. Характер внешнего отражения излучения определяется соотношением между длиной волны l падающего излучения и размерами неровностей отражающей поверхности. При неровностях, размеры которых меньше l, наблюдается зеркальное отражение, в остальных случаях-диффузное отражение (рассеянное излучение). Практически отраженное излучение имеет смешанный характер; при специально выбранных условиях преобладает вклад того или иного вида отражения. Зеркальное отражение получают с применением гладкой плоской поверхности, в частности при исследовании мол. структур слоев, нанесенных на разл. подложки, при изучении явлений адгезии, адсорбции, электрокатализа, ингибирования коррозии, а также при определении оптических постоянных (например, действительной и мнимой частей показателя преломления).

Спектры диффузного отражения обычно малоинтенсивны, т. к. удается собрать и направить в спектральный прибор только очень малую часть рассеянного (отраженного) излучения. Поэтому в этом случае необходимо применять ИК фурье-спектрофотометры, обладающие высокими светосилой и соотношением сигнал: шум (ок. 105). Получаемые при диффузном отражении спектры часто оказываются подобными спектрам пропускания. Исследуемыми образцами м. б. массивные твердые тела, порошки (иногда содержащие разл. наполнители - КВr, КСl, CsI, прозрачные в исследуемой области спектра), волокнистые (ткани, войлок) и ячеистые (например, электроды с разл. наполнителями) материалы, пены, суспензии и аэрозоли, разрядные промежутки с электронными запалами для анализа возможных загрязнений и т.д. Перед исследованием твердый образец обычно натирают на наждачную бумагу на основе карбида кремния тонкого помола, спектр к-рого либо не проявляется в спектре исследуемого образца, либо может бsnm вычтен из полученного спектра и использоваться как спектр сравнения.

Спектры отражения при диффузном рассеянии могут наблюдаться от достаточно малых количеств вещества, например от пятен на хрома-тографической пластине. Метод используют также для определения диэлектрических свойств образцов.

Спектры внутреннего отражения наблюдают, когда исследуемый образец находится в контакте с призмой из оптически менее плотного материала; излучение проходит сначала через призму и ее границу с образцом под углом, превышающим критический (т.е. угол падения, при котором преломление света в образец прекращается), а затем проникает в образец (на глубину до 1-2 мкм), где теряет часть своей энергии и отражается.

Личные инструменты