Электронный микроскоп
Материал из m-protect.ru
| Строка 1: | Строка 1: | ||
| - | '''Электронный микроскоп''' (ЭМ) — микроскоп, отличающиийся возможностью получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. | + | [[Изображение:El2.jpeg|right|280px|thumb|Электронный микроскоп]]'''Электронный микроскоп''' (ЭМ) — микроскоп, отличающиийся возможностью получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. |
Электрон обладая свойствами не только частицы, но и волны, позволяет использовать, как опорное электронное излучение микроскопии. | Электрон обладая свойствами не только частицы, но и волны, позволяет использовать, как опорное электронное излучение микроскопии. | ||
| Строка 21: | Строка 21: | ||
* [[Растровый просвечивающий электронный микроскоп]] | * [[Растровый просвечивающий электронный микроскоп]] | ||
* [[Фотоэмиссионный электронный микроскоп]] | * [[Фотоэмиссионный электронный микроскоп]] | ||
| + | |||
| + | |||
| + | ==См. также== | ||
| + | * [[Электросиловая микроскопия]] | ||
| + | * [[Магнитно-силовая микроскопия]] | ||
| + | * [[Оптическая микроскопия]] | ||
| + | |||
| + | [[Category:Приборы физико-химических исследований]] | ||
| + | |||
| + | [[Category:Микроскопы]] | ||
Версия 22:10, 9 февраля 2009
Электрон обладая свойствами не только частицы, но и волны, позволяет использовать, как опорное электронное излучение микроскопии.
Длина волны электронного излучения зависит от его энергии, а энергия электрона равна E = Ve, где V — разность потенциалов, проходимая электроном, e — заряд электрона. Длины волн электронного излучения при прохождении разности потенциалов 200 000 В составляет разрешение порядка 0,1 нанометра. Электронное излучение легко фокусировать электромагнитными линзами, так как электрон — заряженная частица. Электронное изображение может быть легко переведено в видимое. Современные электронные микроскопы обеспечивают субатомное разрешение.
В отличие от оптического микроскопа, в электронном микроскопе используют потоки электронов и магнитные или электростатические линзы.
В электронных микроскопах формирование изображения производится путем управления пучком электронов и концентрации его на отдельных участках изображения подобно тому, как оптический микроскоп использует стеклянные линзы для фокусирования света на (или сквозь) изображении.
Однако, в 2006 году немецкие ученые Штефан Хелль (Stefan Hell) и Мариано Босси (Mariano Bossi) из Института биофизической химии разработали оптический микроскоп (наноскоп), позволяющий наблюдать объекты размером около 10нм.
Виды электронных микроскопов
- Просвечивающий электронный микроскоп
- Растровые электронные микроскопы
- Отражательный электронный микроскоп
- Растровый просвечивающий электронный микроскоп
- Фотоэмиссионный электронный микроскоп
