Электросиловая микроскопия
Материал из m-protect.ru
(Различия между версиями)
(Новая: В '''электросиловой микроскопии''' для получения информации о свойствах поверхности используется элек...) |
|||
| Строка 6: | Строка 6: | ||
* [[Сканирующий атомно-силовой микроскоп]] | * [[Сканирующий атомно-силовой микроскоп]] | ||
* [[Сканирующий туннельный микроскоп]] | * [[Сканирующий туннельный микроскоп]] | ||
| + | * [[Сканирующая зондовая микроскопия]] | ||
Версия 21:34, 9 февраля 2009
В электросиловой микроскопии для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом. Рассмотрим систему, состоящую из зондового датчика, у которого зонд имеет проводящее покрытие, и образца, представляющего собой тонкий слой материала на хорошо проводящей подложке.
С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью.
