Электросиловая микроскопия
Материал из m-protect.ru
(Различия между версиями)
(Новая: В '''электросиловой микроскопии''' для получения информации о свойствах поверхности используется элек...) |
Текущая версия (21:35, 9 февраля 2009) (просмотреть исходный код) |
||
| (1 промежуточная версия не показана) | |||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
| - | В '''электросиловой микроскопии''' для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом | + | В '''электросиловой микроскопии''' для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом. |
С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью. | С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью. | ||
| Строка 6: | Строка 6: | ||
* [[Сканирующий атомно-силовой микроскоп]] | * [[Сканирующий атомно-силовой микроскоп]] | ||
* [[Сканирующий туннельный микроскоп]] | * [[Сканирующий туннельный микроскоп]] | ||
| + | * [[Сканирующая зондовая микроскопия]] | ||
Текущая версия
В электросиловой микроскопии для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом.
С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью.
