Электросиловая микроскопия
Материал из m-protect.ru
(Различия между версиями)
Текущая версия (21:35, 9 февраля 2009) (просмотреть исходный код) |
|||
| Строка 1: | Строка 1: | ||
| - | В '''электросиловой микроскопии''' для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом | + | В '''электросиловой микроскопии''' для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом. |
С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью. | С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью. | ||
Текущая версия
В электросиловой микроскопии для получения информации о свойствах поверхности используется электрическое взаимодействие между зондом и образцом.
С помощью этого метода можно изучать локальные диэлектрические свойства приповерхностных слоев образцов. Для получения высокого разрешения в данной методике необходимо, чтобы электрическая сила в системе зондовый датчик - образец определялась, в основном, взаимодействием между зондом и поверхностью.
