EXASF спектроскопия

Материал из m-protect.ru

Текущая версия

EXAFS-спектроскопия основана на обработке протяженной тонкой структуры (Extended X-ray Absorption Fine Structure, сокращенно EXAFS), наблюдаемой в рентгеновских спектрах поглощения твердых тел или молекул.

Методы EXAFS-спектроскопии используют для изучения геометрии ближнего окружения примесных атомов в кристаллах. Эти методы позволяют получать нетривиальную информацию об атомном строении частично упорядоченных твердотельных систем. К примеру, EXAFS-исследование ближнего окружения атомов железа и никеля, интеркалированных в межслоевые области графита, показало, что атомы железа располагаются в этих областях асимметрично, притягиваясь к одному из углеродных слоев, а атомы никеля располагаются примерно на равном расстоянии от ближайших углеродных слоев, объединяясь там в плотноупакованные плоские сетки. Методами EXAFS-спектроскопии выполнен большой объем важных в прикладном отношении исследований атомного строения ультрамелкодисперсных каталитически активных частиц с размерами порядка нескольких нанометров, изучать которые традиционными методами крайне сложно.